Souari, Anis: шукати на сайті Z-Library

Пожертвування 15 вересня 2024 – 1 жовтня 2024 Про збір коштів

Найбільша колекція наукових статей у сіті. 70,000,000+ безкоштовних статей.

Пожертвування 15 вересня 2024 – 1 жовтня 2024

Z-Library - одна з найбільших онлайн-бібліотек у світі, в якій зберігається більше 17,000,000 книг та 84,837,000 статей. Ми намагаємось зробити літературу доступною кожному. Сьогодні (15 вересня 2024) ми відкриваємо додатковий збір пожертвувань на підтримку та розвиток проекту.

Також БЕЗЛІМТНІ завантаження (протягом 31 дня після завершення пожертвування) доступні для ВСІХ користувачів, які підтримають проект в період збору коштів до 1 жовтня 2024.

Про збір коштів Детальніше

Підтримати

Книги
Статті (6)
Найпопулярніші
Перелік
- Перелік
- Таблиця

1

[IEEE 2012 IEEE 10th International New Circuits and Systems Conference (NEWCAS) - Montreal, QC, Canada (2012.06.17-2012.06.20)] 10th IEEE International NEWCAS Conference - Formal error analysis and verification of a frequency domain equalizer

Souari, Anis, Tahar, Sofiene, Gawanmeh, Amjad

Рік:

2012

Мова:

english

Файл:

PDF, 259 KB

english, 2012

2

Design and verification of a frequency domain equalizer

Souari, Anis, Gawanmeh, Amjad, Tahar, Sofiène, Lassaad Ammari, Mohamed

Журнал:

Microelectronics Journal

Рік:

2014

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.82 MB

english, 2014

3

[IEEE 2014 IEEE 27th Canadian Conference on Electrical and Computer Engineering (CCECE) - Toronto, ON, Canada (2014.5.4-2014.5.7)] 2014 IEEE 27th Canadian Conference on Electrical and Computer Engineering (CCECE) - Performance evaluation of time and frequency domain equalizers

Souari, Anis, Ammari, Mohamed L., Gawanmeh, Amjad, Tahar, Sofiene

Рік:

2014

Мова:

english

Файл:

PDF, 10.08 MB

english, 2014

4

[IEEE 2015 IEEE 21st International On-Line Testing Symposium (IOLTS) - Halkidiki, Greece (2015.7.6-2015.7.8)] 2015 IEEE 21st International On-Line Testing Symposium (IOLTS) - Optimization of SEU emulation on SRAM FPGAs based on sensitiveness analysis

Souari, Anis, Thibeault, Claude, Blaquiere, Yves, Velazco, Raoul

Рік:

2015

Файл:

PDF, 133 KB

2015

5

[IEEE 2015 IEEE East-West Design & Test Symposium (EWDTS) - Batumi, Georgia (2015.9.26-2015.9.29)] 2015 IEEE East-West Design & Test Symposium (EWDTS) - An automated fault injection for evaluation of LUTs robustness in SRAM-based FPGAs

Souari, Anis, Thibeault, Claude, Blaquiere, Yves, Velazco, Raoul

Рік:

2015

Мова:

english

Файл:

PDF, 166 KB

english, 2015

6

Towards an efficient SEU effects emulation on SRAM-based FPGAs

Souari, Anis, Thibeault, Claude, Blaquière, Yves, Velazco, Raoul

Журнал:

Microelectronics Reliability

Рік:

2016

Мова:

english

Файл:

PDF, 988 KB

english, 2016